Laporan Praktikum ke 10 M.K.

Pengemasan Pangan

Tanggal Mulai Tanggal Selesai

: 17 April 2012 : 15 Mei 2012

PENDUGAAN UMUR SIMPAN BAHAN PANGAN

Oleh : Kelompok 3/A-P2 Suci Ramadhani Rico Fernando Theo Pratiwi Indah Ekasastri Wulan Dewi S J3E111003 J3E111044 J3E111055 J3E111135

Asisten Praktikum : Sofiatul Andariah

Penanggung Jawab : Dwi Yuni Hastati, STP,DEA

PROGRAM KEAHLIAN SUPERVISOR JAMINAN MUTU PANGAN DIREKTORAT PROGRAM DIPLOMA INSTITUT PERTANIAN BOGOR 2012

BAB I PENDAHULUAN

1.1 Latar Belakang Keterangan umur simpan (masa kadaluarsa) produk pangan merupakan salah satu informasi yang wajib dicantumkan oleh produsen pada label kemasan produk pangan. Pencantuman informasi umur simpan menjadi sangat penting karena terkait dengan keamanan produk pangan dan untuk memberikan jaminan mutu pada saat produk sampai ke tangan konsumen. Kewajiban pencantuman masa kadaluarsa pada label pangan diatur dalam Undang-undang Pangan no. 7/1996 serta Peraturan Pemerintah No. 69/1999 tentang Label dan Iklan Pangan, dimana setiap industri pangan wajib mencantumkan tanggal kadaluarsa (expired date) pada setiap kemasan produk pangan (Tamiang, S 2010) Pengolahan pangan pada industri komersial antara lain bertujuan untuk memperpanjang masa simpan. Umur simpan merupakan salah satu persyaratan yang harus dipenuhi sebelum produk pangan dipasarkan selain produk aman dikonsumsi oleh masyarakat. Kriteria atau komponen mutu yang penting pada komoditas pangan adalah keamanan, kesehatan, flavor, tekstur, warna, umur simpan, kemudahan, kehalalan, dan harga (Andarwulan dan Hariyadi 2004). Berkaitan dengan berkembangnya industri pangan skala usaha kecilmenengah, dipandang perlu untuk mengembangkan penentuan umur simpan produk sebagai bentuk jaminan keamanan pangan. Penentuan umur simpan di tingkat industri pangan skala usaha kecil menengah sering kali terkendala oleh faktor biaya, waktu, proses, fasilitas, dan kurangnya pengetahuan produsen pangan (Herawati, H 2009). penentuan umur simpan hendaknya dapat memberikan informasi tentang umur simpan pada kondisi ideal, umur simpan pada kondisi tidak ideal, dan umur simpan pada kondisi distribusi dan penyimpanan normal dan penggunaan oleh konsumen. Suhu normal untuk penyimpanan yaitu suhu yang tidak menyebabkan kerusakan atau penurunan mutu produk. Suhu ekstrim atau tidak normal akan mempercepat terjadinya penurunan mutu produk dan sering diidentifikasi sebagai suhu pengujian umur simpan produk (Hariyadi, 2004).

1.2 Tujuan Tujuan praktikum ini adalah untuk mengetahui pendugaan umur simpan produk dengan menggunakan akselerasi dengan model Arrhenius.

BAB II METODOLOGI
2.1 Alat dan Bahan Alat yang digunakan pada praktikum ini adalah selotip, label, plastik, gunting,dan inkubator. Bahan yang digunakan adalah wafer Roma Superman rasa coklat.

2.2 Metodologi Identifikasi komposisi produk wafer Dilakukan uji skor secara organoleptik terhadap mutu rasa, aroma,dan tekstur produk wafer dengan dua kali ulangan. Simpan produk selama 30 hari pada suhu penyimpanan 30oC, 40 oC, dan 50 oC Identifikasi mutu wafer dan catat perubahan mutu pada hari ke-0, 7, 14, 21, dan 28. Hitung umur simpan produk wafer.

BAB III HASIL DAN PEMBAHASAN

3.1 Hasil Tabel 1. Hasil Pendugaan Umur Simpan Produk Wafer Metode ASTL Arrhenius Percepatan Suhu 25 27 30 25 27 30 Aroma Hari Bulan 37,10 1,24 37,73 1,26 38,69 1,29 46,09 1,54 45,66 1,52 45,03 1,50 Rasa Hari Bulan 55,11 1,84 52,88 1,76 49,74 1,66 65,59 2,19 62,18 2,07 57,46 1,92 Tekstur Hari Bulan 52,07 1,74 49,76 1,66 46,54 1,55 61,70 2,06 58,08 1,94 53,12 1,77

Ordo 0

Ordo 1

Grafik 1. Umur Simpan Rasa Wafer Ordo 0

umur simpan parameter rasa ordo 0

1.9 waktu ( bulan) 1.8 1.7 1.6 1.5 25 27 suhu C
o

y = -0.0896x + 1.9318 R = 0.9908

bulan Linear (bulan) 30

Grafik 2. Umur Simpan Rasa Wafer Ordo 1

umur simpan parameter rasa ordo 1

waktu ( bulan) 2.4 2.2 2 1.8 1.6 25 27 suhu o C 30

y = -0.1355x + 2.329 R = 0.9916 bulan Linear (bulan)

Grafik 3. Umur Simpan Tekstur Wafer Ordo 0

umur simpan parameter tekstur ordo 0

1.9 1.85 1.8 1.75 1.7 1.65 1.6 1.55 25 27 30 y = -0.0896x + 1.9318 R = 0.9908 waktu ( bulan)

bulan Linear (bulan)

Grafik 3. Umur Simpan Tekstur Wafer Ordo 1

umur simpan parameter tekstur y = -0.1354x + 2.329 ordo 1

R = 0.9915 waktu (bulan) 2.4 2.2 2 1.8 1.6 25 27 suhu o C 30 bulan Linear (bulan)

Grafik 5. Umur Simpan Aroma Wafer Ordo 0

umur simpan parameter aroma orado 0

1.6 1.55 1.5 1.45 1.4 1.35 1.3 25 27 suhu C
o

waktu ( bulan)

y = -0.0729x + 1.63 R = 0.9908 bulan Linear (bulan) 30

Grafik 6. Umur Simpan Aroma Wafer Ordo 1

umur simpan parameter aroma ordo 1 y = -0.1396x + 2.3187

waktu ( bulan) 2.4 2.2 2 1.8 1.6 25 27 suhu C
o

R = 0.9916

bulan Linear (bulan) 30

3.2 Pembahasan Wafer adalah bahan dasar dari komponen microsystem. Wafer biasanya berbentuk lempengan tipis berbentuk lingkaran dengan garis disalah satunya sisinya. Pada umumnya wafer terbuat dari Kristal silicon. Wafer merupakan suatu bentuk pakan yang memiliki bentuk fisik kompak dan ringkas sehingga diharapkan dapat memudahkan dalam penanganan dan transportasi, disamping itu memiliki kandungan nutrisi yang lengkap dan menggunakan teknologi yang relative sederhana sehingga mudah diterapkan. Umur simpan adalah kurun waktu ketika suatu produk makanan akan tetap aman, mempertahankan sifat sensori, kimia, fisik, dan mikrobiologi tertentu, serta sesuai dengan keterangan pelabelan data nutrisi, ketika disimpan pada kondisi tertentu. Secara umum, ada tiga macam komponen penting yang berhubungan dengan umur simpan, yaitu perubahan mikrobiologis (terutama untuk produk dengan umur simpan yang pendek), serta perubahan kimia dan sensori (terutama untuk produk dengan waktu simpan menengah hingga lama) (Herawati, H 2009). Penentuan umur simpan produk pangan dapat dilakukan dengan menyimpan produk pada kondisi penyimpanan yang sebenarnya. Cara ini menghasilkan hasil yang paling tepat, namun memerlukan waktu yang lama dan biaya yang besar. Kendala yang sering dihadapi oleh industri dalam penentuan umur simpan suatu produk adalah masalah waktu, karena bagi produsen hal ini akan mempengaruhi jadwal launching suatu produk pangan. Oleh karena itu

diperlukan metode pendugaan umur simpan cepat, mudah, murah dan mendekati umur simpan yang sebenarnya. Pada Praktikum ini, dilakukan umur percobaan dengan metode Accelerated Shelf Life Testing Arrhenius. Metode Accelerated Shelf Life Testing (ASLT), yaitu dengan cara menyimpan produk pangan pada lingkungan yang menyebabkannya cepat rusak, baik pada kondisi suhu atau kelembaban ruang penyimpanan yang lebih tinggi. Data perubahan mutu selama penyimpanan diubah dalam bentuk model matematika, kemudian umur simpan ditentukan dengan cara ekstrapolasi persamaan pada kondisi penyimpanan normal. Metode akselerasi dapat dilakukan dalam waktu yang lebih singkat dengan akurasi yang baik. Dalam percobaan ini, produk pangan yang diuji umur simpannya adalah wafer Roma Superman rasa coklat. Produk wafer diuji dengan uji skor berdasarkan parameter mutu rasa, aroma, dan tekstur dengan dua kali ulangan. Pengujian dilakukan pada hari ke 0, ke 7, ke 14, ke 21 dan ke 28. Uji skor dalam penilaian wafer dengan memberikan skor dari 1-5 (dari yang paling buruk samapai paling baik). Produk wafer disimpan pada suhu 30 oC, 40 oC, dan 50 oC. Setelah didapat skor penilaian, dilakukan perhitungan umur simpan produk. 3.2.1 Tekstur Berdasarkan tabel hasil pengamatan paraemter mutu tekstur wafer ordo 0, pada suhu 25 0C didapat LNK sebesar -3,259440587 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,038409879 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 25 0C sebesar 52,06993756 atau selama 52 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 3 minggu 1 hari. Pada suhu 27 0C, didapat LNK sebesar -3,214099826 dengan nilai

konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,040191497 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 27 0C sebesar 49,76176941 atau selama 50 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1bulan 2 minggu 6 hari. Pada suhu 30 0C, didapat LNK sebesar -3,14721098 dengan nilai

konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,042971809sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 30 0C sebesar 46,54214103 atau selama 46 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 2 minggu 2 hari.

Berdasarkan tabel hasil pengamatan paraemter mutu tesktur wafer ordo 1, pada suhu 25 0C didapat LNK sebesar -4,794085007 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,00827857 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 25 0C sebesar 61,70457114 atau selama 62 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 2 bulan 2 hari. Pada suhu 27
0

C,

didapat LNK sebesar --4,733574091dengan nilai konstanta laju

penurunan mutu sebesar 0,008794981 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 27 0C sebesar 58,0814943atau selama 58 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 4minggu. Pada suhu 30 0C, didapat LNK sebesar -4,644305511 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,009616206 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 30 0C sebesar 53,12132875 atau selama 53 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 3 minggu 2 hari. Hal ini pada kerenyahan wafer dipengaruhi oleh sejumlah air terikat pada matriks karbohidrat yang mempengaruhi pergerakan relatif dari kristalin dan amorf, struktur amorf sendiri terbentuk karena adanya proses salah satunya yaitu proses pemanggangan. Kerenyahan wafer sendiri dipengaruhi oleh komposisi utama wafer yang komposisinya terdiri dari lemak nabati, gula, terigu, pengemulsi, kakao, dan perisai coklat, selain itu proses pemanggangan, dan jenis dari kemasan wafer itu sendiri. Komponen yang berperan sebagai pembentuk struktur wafer adalah tepung terigu dan air. Lemak yang ditambahkan kedalam formulasi wafer untuk memperbaiki tekstur wafer. Kerenyahan wafer sendiri akan semakin menurun dengan bertambahnya waktu penyimpanan. 3.2.2 Rasa Berdasarkan tabel hasil pengamatan paraemter mutu rasa wafer ordo 0, pada suhu 25 0C didapat LNK sebesar -3,316268698 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,036287981 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 25 0C sebesar 55,11467 atau selama 55 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 3 minggu 4 hari. Pada suhu 27 0C, didapat LNK sebesar -3,274801945 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,03782436 sehingga didapatkan umur

simpan wafer pada suhu 27 0C sebesar 52,8759776 atau selama 53 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 3 minggu 2 hari. Pada suhu 30 0C, didapat LNK sebesar -3,213628221 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,040210456 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 30 0C sebesar 49,73830706 atau selama 50 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 2 minggu 6 hari. Berdasarkan tabel hasil pengamatan paraemter mutu rasa wafer ordo 1, pada suhu 25 0C didapat LNK sebesar -4,855148309 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,007788178 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 25 0C sebesar 65,5899 atau selama 66 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 2 bulan 6 hari. Pada suhu 27 0C, didapat LNK sebesar 4,801716327 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,008215634 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 27 0C sebesar 62,17725984 atau selama 62 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 2 bulan 2 hari. Pada suhu 30 0C, didapat LNK sebesar -4,722890928 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,008889443 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 30 0C sebesar 57,46430292 atau selama 57 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 3 minggu. Indikator mutu akan berubah oleh adanya pengaruh dari faktor lingkungan seperti suhu, kelembaban dan tekanan udara atau karena faktor komposisi makanan itu sendiri. Suhu merupakan faktor yang sangat berpengaruh terhadap perubahan mutu makanan, semakin tinggi suhu penyimpanan maka laju reaksi berbagai senyawa kimia di dalam bahan pangan akan semakin cepat. Perubahan flavor dan cita rasa pada produk pangan diakibatkan oleh pertumbuhan bakteri. Bakteri yang tumbuh pada makanan bersifat heterotropik, yaitu bakteri yang hidup pada suhu yang berbeda dan membutuhkan zat organik untuk pertumbuhannya (Fardiaz 1992). Pertumbuhan bakteri pun dapat mengakibatkan perubahan penampakan maupun komposisi kimia dan cita rasa bahan pangan. Reaksi deteriorasi dapat disebabkan oleh faktor intrinsik maupun ekstrinsik yang akan memicu reaksi ini di dalam produk berupa reaksi

kimia, reaksi enzimatis atau proses fisik yaitu penyerapan uap air atau gas dari sekelilingnya. Hal ini menyebabkan perubahan terhadap produk meliputi perubahan tekstur, flavor, warna, penampakan fisik, nilai gizi, maupun mikrobiologis. Penyimpanan suhu yang lebih rendah dapat memperpanjang masa simpan wafer dibandingkan dengan penyimpanan suhu tinggi karena pada suhu penyimpanan ini aktifitas mikroorganisme, reaksi kimia dan biokimia di dalam produk dapat dihambat. Tingginya suhu penyimpanan akan mempercepat kerusakan perubahan mutu produk. Sebagaimana pernyataan Fenema di dalam Karel et al. (1978) bahwa reaksi kimia diantaranya oksidasi lemak, degradasi pigmen, perkembangan berbagai flavor, degradasi vitamin dapat dihambat pada penyimpanan suhu rendah. 3.2.3 Aroma Pengujian yang dilakukan terhadap wafer merupakan uji

organoleptik uji organoleptik sendiri merupakan pengujian terhadap bahan makanan berdasarkan kesukaan dan kemauan untuk mempergunakan suatu produk. Dalam penilaian bahan pangan, sifat yang menentukan diterima atau tidak suatu produk berdasarkan sifat indrawi. Penilaian indrawi ini terdiri dari enam tahap yaitu pertama menerima bahan, mengenali bahan, mengadakan klarifikasi sifat-sifat bahan, mengingat kembali bahan yang telah diamati, dan menguraikan kembali sifat indrawi produk tersebut (Kusmiadi 2008). Jumlah panelis pada uji organoleptik terhadap wafer superman terdiri dari 5 panelis. Pada uji ini panelis diminta untuk memberikan respon terhadap wafer. respon dari panelis sendiri diwakili dengan angka atau numerik. Hal ini untuk mempermudah panelis menggambarkan responya dan untuk mempermudah pada saat

penghitungan menggunakan excel. Setelah dilakukan uji organoleptik, maka dilakukanlah perhitungan pendugaan umur simpan menggunkan cara arhenius. Setelah data diplotkan maka dihitung ordo 0 nya. Ordo 0 ini menunjukan hubungan antara nilai rata rata parameter dan waktu penyimpanan. Sedangkan ordo 1 menunjukan hubungan antara nilai ln nilai rata rata parameter dengan

waktu penyimpanan untuk masing masing suhu penyimpanan. Batas kritis pada parameter ini ditunjukan dengan angka, 3 yaitu wafer sudah tidak beraroma khas wafer lagi. Biasanya untuk penentuan umursimpan yang digunakan adalah umur simpan pada ordo 0 karena pada ordo ini waktu penyimpanannya lebih singkat dibandingkan dengan umur simpan pada ordo 1 sehingga produk akan lebih aman. Bedasarkan perhitungan pada ordo 0 didapatkan bahwa umur simpan aroma wafer bila disimpan pada suhu 25oC sebesar 49,591 atau selama 50 hari bila dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 2 minggu 6 hari. Namun jika disimpan pada suhu 27oC, umur simpannya sebesar 44,77168 atau selama 45 bila dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 2 minggu 1 hari. Jika disimpan pada suhu 30oC , umur simpannya menjadi lebih menurun yaitu menjadi 42,21666 atau 42 hari atau dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1bulan 1 minggu 5 hari. Jika berdasarkan ordo 1 umur simpan aroma wafer jika disimpan pada suhu 25oC sebesar 65,15367 atau selama 65 hari atau dalam kisaran bulan 2 bulan 5 hari. Jika produk wafer tersebut disimpan pada suhu 27oC umur simpannya menurun menjadi 61,63047 atau 62 hari atau dalam bulan kurang lebih 2 bulan 2 hari. Dan jika disimpan pada suhu 30oC umur simpannya menjadi 56,77771 atau selama 57 hari atau 1 bulan 2 minggu 6 hari. Aroma tengik yang muncul ini karena pada wafer ini mengandung lemak. Dan ketika lemak terkena panas yang cukup lama maka akan timbul aroma tengik. Aroma tengik ini disebabkan oleh otooksidasi radikal asam lemak tidak jenuh. Kemudian molekul molekul lemak yang mengandung radikal asam lemak tidak jenuh mengalami oksidasi dan menjadi tengik. Bau tengik yang tidak sedap tersebut disebabkan oleh pembentukan senyawa senyawa hasil pemecahan hidroperoksida. Menurut teori yang sampai kini masih diyakini, sebuah atom hidrogen yang terikat pada suatu atom karbon yang letaknya disebelah atom karbon

lainnya mempunyai ikatan rangkap dapat disingkirkan oleh suatu kuantum energi sehingga membentuk radikal bebas. Selanjutnya radikal ini bersama dengan oksigen akan membentuk peroksida aktif yang dapat membentuk hidroperoksida yang bersifat sangat tidak stabil dan mudah pecah menjadi senyawa dengan rantai karbon yang lebih pendek oleh radiasi energi tinggi, energi panas, senyawa senyawa dengan rantai pendek ini adalah asam asam lemak, aldehida-aldehida, dan keton yang bersifat volatil dan menimbulkan bau tengik pada lemak. Dari penjabaran diatas terlihat bahwa semakin tinggi suhu umur simpan terhadap parameter aroma juga menjadi menurun. Hal ini karena bila disimpan pada suhu tinggi maka produk wafer tersebut akan cepat mengalami ketengikan. Namun bila disimpan pada suhu yang dingin, proses ketengikan akan berjalan lambat karena pada suhu dingin coklat akan mengeras atau dingin. Wafer coklat mengandung lemak maka ketika coklat tersebut tersebut mengeras karena terkena suhu dingin maka lemak yang terkandung didalamnya akan ikut membeku atau mengeras. Selain itu, terlihat bahwa parameter aroma merupakan faktor yang paling penting karena aroma ini mengalami penurunan yang paling cepat selama penyimpanan. Hal ini dapat terlihat dari nilai slope yang lebih kecil dibandingkan dengan parameter yang lainnya. Dengan demikian, atribut aroma dapat digunakan sebagai penentu umur simpan wafer.

BAB IV KESIMPULAN DAN SARAN

4.1 Kesimpulan Dari hasil praktikum pendugaan umur simpan produk pangan dengan metode Accelerated Shelf Life Testing, diketahui umur simpan wafer adalah 37 hari atau 1 bulan 1 minggu. Semakin rendah suhu penyimpanan, maka umur simpan (shelf life) produk wafer akan semakin lama. Selain suhu, komposisi wafer akan mempengaruhi mutu aroma, tekstur, dan rasa wafer sehingga akan mempengaruhi umur simpan produk tersebut. 4.2 Saran Pemberian skor dengan uji skor harus menggunakan panelis yang terlatih agar penilian dilakukan secara subjektif dn objektif. Selain itu, inkubator yang digunakan sebagai tempat penyimpanan untuk simulasi suhu penyimpanan harus dijaga dan diawasi agar suhunya tetap stabil. Hal ini dilakukan karena pada saat tertentu, inkubator dapat mati mendadak akibantnya mengalami perubahan suhu sehingga data yang didapat kurang akurat.

DAFTAR PUSTAKA
Hariyadi, P. 2004. Prinsip-prinsip pendugaan masa kedaluwarsa dengan metode Accelerated Shelf Life Test. Di dalam Pelatihan Pendugaan Waktu Kedaluwarsa (Shelf Life). Bogor: Pusat Studi Pangan dan Gizi, Institut Pertanian Bogor. Herawati, H. 2009. Pendugaan umur simpan produk pangan. Bukit Tegalepek: Balai Pengkajian Teknologi Pertanian Jawa Tengah Oktania, I.2004. Studi Penentuan Umur Simoan Produk Wafer dengan Metode Accelerated Shelf Lifr Testing (ASLT). Bogor: Fakultas Teknologi Pertanian, Institut Pertanian Bogor. Setyaningsih, D. 2010. Analisis Sensori untuk Industri Pangan dan Agro. Bogor: IPB Press Tamiang, S. 2010. Pendugaan umur simpan kemasan http://resepcarapembuatanpengolahanhasilkue.blogspot.com [2 Juni 2012] Winarno FG. 2008. Kimia Pangan dan Gizi. Bogor: M-Brio press

LAMPIRAN
Tabel 2. Perhitungan Pendugaan Umur Simpan Rasa Wafer

Tabel 3. Perhitungan Pendugaan Umur Simpan Aroma Wafer

Tabel 4. Perhitungan Pendugaan Umur Simpan Rasa Wafer

Model persamaan Arrhenius Persamaan reaksi ordo 0: dt Persamaan reaksi ordo 1: dA dt dimana: A = nilai mutu yang tersisa setelah waktu t Ao = nilai mutu awal t = waktu penyimpanan (dalam hari, bulan atau tahun) k = konstanta laju reaksi ordo nol atau satu = kA (2) dA = kA (1)

k = ko.exp (Ea/RT) (3) dimana: k = konstanta laju penurunan mutu ko = konstanta (faktor frekuensi yang tidak tergantung suhu) Ea = energi aktivasi

T = suhu mutlak (K) R = konstanta gas (1.986 kal/mol K)