TUGAS KIMIA FISIKA X-RAY DIFFRACTION (XRD

)

Disusun Oleh : 1. Dina Ratnasari 2. Sas Hermanihadi 3. Wisnu Indriyanto 4. Alfian Fathony 5. Fransisca Devi W H 6. Patria Agung R 7. Yulian Amin Rais I 0507004 I 0507012 I 0507014 I 0507019 I 0507028 I 0507051 I 0507061

JURUSAN TEKNIK KIMIA FAKULTAS TEKNIK UNIVERSITAS SEBELAS MARET SURAKARTA 2009
1

Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi. PENGERTIAN Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895.X-RAY DIFFRACTION (XRD) A. Gambar dibawah akan menjelaskan pengertian tersebut. Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan 2 . Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. Sinar X digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun manusia. Pada waktu suatu material dikenai sinar X.Berkas sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Disamping itu. maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah dari intensitas sinar datang. Hukum Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. sinar X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material.

Berdasarkan persamaan Bragg.tinggi dengan logam target. Dari prinsip dasar ini. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg: n. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. sehingga menghasilkan elektron. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi.. n = 1. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. dan detektor sinar X. makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material. homogenized. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel. yaitu tabung sinar-X. Prinsip kerja XRD secara umum adalah sebagai berikut : XRD terdiri dari tiga bagian utama.. Bahan yang dianalisa adalah tanah halus. jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal.2. PRINSIP KERJA Dasar dari prinsip pendifraksian sinar X yaitu difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam sebuah kisi periodik. tempat objek yang diteliti. Standar ini disebut JCPDS.sin θ . maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan prinsip dari Hukum Bragg ini..d. Sinar X dihasilkan di tabung sinar X yang berisi katoda memanaskan filamen.λ = 2. XRD atau X-Ray Diffraction merupakan salah satu alat yang memanfaatkan prinsip tersebut dengan menggunakan metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Perbedaan tegangan 3 . dan rata-rata komposisi massal ditentukan B.maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut.

Objek dan detektor berputar untuk menangkap dan merekam intensitas refleksi sinar X. Sedangkan kekurangannya adalah untuk objek berupa kristal tunggal sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya. APLIKASI 1. Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal. Detektor merekam dan memproses sinyal sinar X dan mengolahnya dalam bentuk grafik. Ketika elektron mempunyai tingkat energi yang tinggi dan menabrak elektron dalam objek sehingga dihasilkan pancaran sinar X. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement 2. Analisis kuantitatif dari mineral 3. 4 . C.menyebabkan percepatan elektron akan menembaki objek. Karakterisasi material Kristal 4. Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat Penentuan dimensi-dimensi sel satuan D. Karakteristik sampel film E. PENGGUNAAN 1. Sedangkan untuk objek berupa bubuk (powder) sulit untuk menentukan strukturnya. KELEBIHAN DAN KEKURANGAN Kelebihan penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah kemampuan penetrasinya. sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang gelombangnya yang pendek. Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf 2. 3.

F. GAMBAR XRD  Gambar Alat 5 .

html http://labinfo.wikip edia.blogspot. DAFTAR PUSTAKA http://batan.html http://translate.com/2009/05/prinsip-dasar-spekstroskopi-difraksi. Gambar Contoh Pola yang Menggunakan Alat XRD  Gambar Contoh Grafik G.go.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://en.id/ptbn/html/indo_fasilitas.org/wiki/Xray_scattering_techniques&prev=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DX RD%26tq%3DXRD%26sl%3Did%26tl%3Den 6 .com/2008/05/14/teknik-pemeriksaan-materialmenggunakan-xrf-xrd-dan-sem-eds/ http://orybun.google.co.wordpress.

http://translate.google.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://serc.edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRD.co.html&pre v=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DXRD%26tq%3DXRD%26sl%3 Did%26tl%3Den 7 .carl eton.

Sign up to vote on this title
UsefulNot useful