TUGAS KIMIA FISIKA X-RAY DIFFRACTION (XRD

)

Disusun Oleh : 1. Dina Ratnasari 2. Sas Hermanihadi 3. Wisnu Indriyanto 4. Alfian Fathony 5. Fransisca Devi W H 6. Patria Agung R 7. Yulian Amin Rais I 0507004 I 0507012 I 0507014 I 0507019 I 0507028 I 0507051 I 0507061

JURUSAN TEKNIK KIMIA FAKULTAS TEKNIK UNIVERSITAS SEBELAS MARET SURAKARTA 2009
1

Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. sinar X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material. Sinar X digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun manusia.X-RAY DIFFRACTION (XRD) A. Disamping itu. maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah dari intensitas sinar datang. PENGERTIAN Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895. Hukum Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. Pada waktu suatu material dikenai sinar X. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi. Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan 2 . Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Gambar dibawah akan menjelaskan pengertian tersebut.Berkas sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama.

tempat objek yang diteliti. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg: n. makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. sehingga menghasilkan elektron. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. XRD atau X-Ray Diffraction merupakan salah satu alat yang memanfaatkan prinsip tersebut dengan menggunakan metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Berdasarkan persamaan Bragg. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi.. PRINSIP KERJA Dasar dari prinsip pendifraksian sinar X yaitu difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam sebuah kisi periodik. Standar ini disebut JCPDS. Sinar X dihasilkan di tabung sinar X yang berisi katoda memanaskan filamen. Perbedaan tegangan 3 . n = 1.. Dari prinsip dasar ini. dan detektor sinar X. dan rata-rata komposisi massal ditentukan B.tinggi dengan logam target.sin θ .2.λ = 2. homogenized.. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. Bahan yang dianalisa adalah tanah halus.maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal. maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan prinsip dari Hukum Bragg ini. Prinsip kerja XRD secara umum adalah sebagai berikut : XRD terdiri dari tiga bagian utama.d. yaitu tabung sinar-X. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi.

Karakteristik sampel film E. C. Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat Penentuan dimensi-dimensi sel satuan D. Karakterisasi material Kristal 4. Analisis kuantitatif dari mineral 3. APLIKASI 1. Objek dan detektor berputar untuk menangkap dan merekam intensitas refleksi sinar X. 3. Ketika elektron mempunyai tingkat energi yang tinggi dan menabrak elektron dalam objek sehingga dihasilkan pancaran sinar X. Detektor merekam dan memproses sinyal sinar X dan mengolahnya dalam bentuk grafik. Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf 2. Sedangkan kekurangannya adalah untuk objek berupa kristal tunggal sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya. PENGGUNAAN 1. Sedangkan untuk objek berupa bubuk (powder) sulit untuk menentukan strukturnya. Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement 2. sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang gelombangnya yang pendek. KELEBIHAN DAN KEKURANGAN Kelebihan penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah kemampuan penetrasinya. 4 .menyebabkan percepatan elektron akan menembaki objek.

GAMBAR XRD  Gambar Alat 5 .F.

blogspot.co.com/2008/05/14/teknik-pemeriksaan-materialmenggunakan-xrf-xrd-dan-sem-eds/ http://orybun.com/2009/05/prinsip-dasar-spekstroskopi-difraksi.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://en. DAFTAR PUSTAKA http://batan.google. Gambar Contoh Pola yang Menggunakan Alat XRD  Gambar Contoh Grafik G.html http://labinfo.html http://translate.go.org/wiki/Xray_scattering_techniques&prev=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DX RD%26tq%3DXRD%26sl%3Did%26tl%3Den 6 .id/ptbn/html/indo_fasilitas.wordpress.wikip edia.

google.http://translate.co.html&pre v=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DXRD%26tq%3DXRD%26sl%3 Did%26tl%3Den 7 .id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://serc.carl eton.edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRD.

Sign up to vote on this title
UsefulNot useful