TUGAS KIMIA FISIKA X-RAY DIFFRACTION (XRD

)

Disusun Oleh : 1. Dina Ratnasari 2. Sas Hermanihadi 3. Wisnu Indriyanto 4. Alfian Fathony 5. Fransisca Devi W H 6. Patria Agung R 7. Yulian Amin Rais I 0507004 I 0507012 I 0507014 I 0507019 I 0507028 I 0507051 I 0507061

JURUSAN TEKNIK KIMIA FAKULTAS TEKNIK UNIVERSITAS SEBELAS MARET SURAKARTA 2009
1

Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X.X-RAY DIFFRACTION (XRD) A. PENGERTIAN Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895. Gambar dibawah akan menjelaskan pengertian tersebut. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut.Berkas sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Pada waktu suatu material dikenai sinar X. sinar X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material. Disamping itu. Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan 2 . Sinar X digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun manusia. Hukum Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah dari intensitas sinar datang. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi.

PRINSIP KERJA Dasar dari prinsip pendifraksian sinar X yaitu difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan prinsip dari Hukum Bragg ini. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel. Dari prinsip dasar ini. Sinar X dihasilkan di tabung sinar X yang berisi katoda memanaskan filamen. tempat objek yang diteliti.sin θ .. Berdasarkan persamaan Bragg. XRD atau X-Ray Diffraction merupakan salah satu alat yang memanfaatkan prinsip tersebut dengan menggunakan metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Standar ini disebut JCPDS. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. n = 1.tinggi dengan logam target.d.λ = 2.. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg: n. Prinsip kerja XRD secara umum adalah sebagai berikut : XRD terdiri dari tiga bagian utama.2. jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal. Bahan yang dianalisa adalah tanah halus. sehingga menghasilkan elektron. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material.. yaitu tabung sinar-X. dan detektor sinar X.maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. dan rata-rata komposisi massal ditentukan B. homogenized. Perbedaan tegangan 3 .

Detektor merekam dan memproses sinyal sinar X dan mengolahnya dalam bentuk grafik. 4 . Objek dan detektor berputar untuk menangkap dan merekam intensitas refleksi sinar X. KELEBIHAN DAN KEKURANGAN Kelebihan penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah kemampuan penetrasinya. PENGGUNAAN 1. APLIKASI 1. Ketika elektron mempunyai tingkat energi yang tinggi dan menabrak elektron dalam objek sehingga dihasilkan pancaran sinar X. 3.menyebabkan percepatan elektron akan menembaki objek. Analisis kuantitatif dari mineral 3. Karakterisasi material Kristal 4. C. Sedangkan untuk objek berupa bubuk (powder) sulit untuk menentukan strukturnya. Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat Penentuan dimensi-dimensi sel satuan D. Sedangkan kekurangannya adalah untuk objek berupa kristal tunggal sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya. Karakteristik sampel film E. Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal. sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang gelombangnya yang pendek. Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf 2. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement 2.

F. GAMBAR XRD  Gambar Alat 5 .

co.html http://labinfo.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://en.com/2009/05/prinsip-dasar-spekstroskopi-difraksi.wikip edia.wordpress. DAFTAR PUSTAKA http://batan.go.id/ptbn/html/indo_fasilitas.html http://translate.org/wiki/Xray_scattering_techniques&prev=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DX RD%26tq%3DXRD%26sl%3Did%26tl%3Den 6 . Gambar Contoh Pola yang Menggunakan Alat XRD  Gambar Contoh Grafik G.blogspot.com/2008/05/14/teknik-pemeriksaan-materialmenggunakan-xrf-xrd-dan-sem-eds/ http://orybun.google.

google.http://translate.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://serc.html&pre v=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DXRD%26tq%3DXRD%26sl%3 Did%26tl%3Den 7 .carl eton.co.edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRD.

Master your semester with Scribd & The New York Times

Special offer for students: Only $4.99/month.

Master your semester with Scribd & The New York Times

Cancel anytime.