TUGAS KIMIA FISIKA X-RAY DIFFRACTION (XRD

)

Disusun Oleh : 1. Dina Ratnasari 2. Sas Hermanihadi 3. Wisnu Indriyanto 4. Alfian Fathony 5. Fransisca Devi W H 6. Patria Agung R 7. Yulian Amin Rais I 0507004 I 0507012 I 0507014 I 0507019 I 0507028 I 0507051 I 0507061

JURUSAN TEKNIK KIMIA FAKULTAS TEKNIK UNIVERSITAS SEBELAS MARET SURAKARTA 2009
1

X-RAY DIFFRACTION (XRD) A. maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah dari intensitas sinar datang. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi. Pada waktu suatu material dikenai sinar X. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Gambar dibawah akan menjelaskan pengertian tersebut.Berkas sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Disamping itu. PENGERTIAN Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895. Sinar X digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun manusia. Hukum Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. sinar X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material. Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan 2 . Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X.

Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg: n. Prinsip kerja XRD secara umum adalah sebagai berikut : XRD terdiri dari tiga bagian utama.d. makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya.. PRINSIP KERJA Dasar dari prinsip pendifraksian sinar X yaitu difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam sebuah kisi periodik. dan rata-rata komposisi massal ditentukan B. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel. jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal. n = 1. XRD atau X-Ray Diffraction merupakan salah satu alat yang memanfaatkan prinsip tersebut dengan menggunakan metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Sinar X dihasilkan di tabung sinar X yang berisi katoda memanaskan filamen.2. Bahan yang dianalisa adalah tanah halus.maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. tempat objek yang diteliti.. homogenized.tinggi dengan logam target.sin θ .. Standar ini disebut JCPDS. maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan prinsip dari Hukum Bragg ini. sehingga menghasilkan elektron. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. yaitu tabung sinar-X. Perbedaan tegangan 3 . Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. Berdasarkan persamaan Bragg. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi.λ = 2. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material. Dari prinsip dasar ini. dan detektor sinar X.

3. Karakterisasi material Kristal 4.menyebabkan percepatan elektron akan menembaki objek. Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat Penentuan dimensi-dimensi sel satuan D. APLIKASI 1. Detektor merekam dan memproses sinyal sinar X dan mengolahnya dalam bentuk grafik. sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang gelombangnya yang pendek. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement 2. Objek dan detektor berputar untuk menangkap dan merekam intensitas refleksi sinar X. Ketika elektron mempunyai tingkat energi yang tinggi dan menabrak elektron dalam objek sehingga dihasilkan pancaran sinar X. C. 4 . Sedangkan untuk objek berupa bubuk (powder) sulit untuk menentukan strukturnya. Analisis kuantitatif dari mineral 3. Sedangkan kekurangannya adalah untuk objek berupa kristal tunggal sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya. KELEBIHAN DAN KEKURANGAN Kelebihan penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah kemampuan penetrasinya. Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf 2. PENGGUNAAN 1. Karakteristik sampel film E. Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.

F. GAMBAR XRD  Gambar Alat 5 .

google.html http://labinfo.wikip edia.id/ptbn/html/indo_fasilitas.com/2009/05/prinsip-dasar-spekstroskopi-difraksi.html http://translate.blogspot.com/2008/05/14/teknik-pemeriksaan-materialmenggunakan-xrf-xrd-dan-sem-eds/ http://orybun.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://en. DAFTAR PUSTAKA http://batan.go.co.org/wiki/Xray_scattering_techniques&prev=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DX RD%26tq%3DXRD%26sl%3Did%26tl%3Den 6 . Gambar Contoh Pola yang Menggunakan Alat XRD  Gambar Contoh Grafik G.wordpress.

carl eton.edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRD.google.co.html&pre v=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DXRD%26tq%3DXRD%26sl%3 Did%26tl%3Den 7 .id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://serc.http://translate.

Sign up to vote on this title
UsefulNot useful