Proses Analysis Xrd III

TUGAS KIMIA FISIKA X-RAY DIFFRACTION (XRD

)

Disusun Oleh : 1. Dina Ratnasari 2. Sas Hermanihadi 3. Wisnu Indriyanto 4. Alfian Fathony 5. Fransisca Devi W H 6. Patria Agung R 7. Yulian Amin Rais I 0507004 I 0507012 I 0507014 I 0507019 I 0507028 I 0507051 I 0507061

JURUSAN TEKNIK KIMIA FAKULTAS TEKNIK UNIVERSITAS SEBELAS MARET SURAKARTA 2009
1

Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan 2 . Hukum Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. Disamping itu.X-RAY DIFFRACTION (XRD) A. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi. sinar X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material.Berkas sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Pada waktu suatu material dikenai sinar X. Sinar X digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun manusia. Gambar dibawah akan menjelaskan pengertian tersebut. PENGERTIAN Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895. maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah dari intensitas sinar datang.

Bahan yang dianalisa adalah tanah halus. PRINSIP KERJA Dasar dari prinsip pendifraksian sinar X yaitu difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam sebuah kisi periodik.λ = 2.tinggi dengan logam target.d. sehingga menghasilkan elektron.. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel. dan detektor sinar X. maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan prinsip dari Hukum Bragg ini. yaitu tabung sinar-X. Standar ini disebut JCPDS. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Dari prinsip dasar ini. jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal.. dan rata-rata komposisi massal ditentukan B. Prinsip kerja XRD secara umum adalah sebagai berikut : XRD terdiri dari tiga bagian utama. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Berdasarkan persamaan Bragg. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material.2.. Perbedaan tegangan 3 . makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg: n. Sinar X dihasilkan di tabung sinar X yang berisi katoda memanaskan filamen. XRD atau X-Ray Diffraction merupakan salah satu alat yang memanfaatkan prinsip tersebut dengan menggunakan metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. homogenized. n = 1. tempat objek yang diteliti. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif.maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut.sin θ .

C. APLIKASI 1. PENGGUNAAN 1. Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat Penentuan dimensi-dimensi sel satuan D. Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal. Analisis kuantitatif dari mineral 3. KELEBIHAN DAN KEKURANGAN Kelebihan penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah kemampuan penetrasinya. 4 . Karakteristik sampel film E. Objek dan detektor berputar untuk menangkap dan merekam intensitas refleksi sinar X.menyebabkan percepatan elektron akan menembaki objek. Sedangkan kekurangannya adalah untuk objek berupa kristal tunggal sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya. sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang gelombangnya yang pendek. Ketika elektron mempunyai tingkat energi yang tinggi dan menabrak elektron dalam objek sehingga dihasilkan pancaran sinar X. 3. Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf 2. Sedangkan untuk objek berupa bubuk (powder) sulit untuk menentukan strukturnya. Detektor merekam dan memproses sinyal sinar X dan mengolahnya dalam bentuk grafik. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement 2. Karakterisasi material Kristal 4.

F. GAMBAR XRD  Gambar Alat 5 .

html http://labinfo.go.google.com/2009/05/prinsip-dasar-spekstroskopi-difraksi.wikip edia.blogspot.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://en.html http://translate.wordpress. DAFTAR PUSTAKA http://batan. Gambar Contoh Pola yang Menggunakan Alat XRD  Gambar Contoh Grafik G.id/ptbn/html/indo_fasilitas.org/wiki/Xray_scattering_techniques&prev=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DX RD%26tq%3DXRD%26sl%3Did%26tl%3Den 6 .co.com/2008/05/14/teknik-pemeriksaan-materialmenggunakan-xrf-xrd-dan-sem-eds/ http://orybun.

edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRD.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://serc.carl eton.http://translate.google.html&pre v=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DXRD%26tq%3DXRD%26sl%3 Did%26tl%3Den 7 .co.

Sign up to vote on this title
UsefulNot useful