P. 1
Proses Analysis Xrd III

Proses Analysis Xrd III

|Views: 14|Likes:
Published by Randi Mahendra

More info:

Published by: Randi Mahendra on May 30, 2013
Copyright:Attribution Non-commercial

Availability:

Read on Scribd mobile: iPhone, iPad and Android.
download as PDF, TXT or read online from Scribd
See more
See less

03/05/2014

pdf

text

original

TUGAS KIMIA FISIKA X-RAY DIFFRACTION (XRD

)

Disusun Oleh : 1. Dina Ratnasari 2. Sas Hermanihadi 3. Wisnu Indriyanto 4. Alfian Fathony 5. Fransisca Devi W H 6. Patria Agung R 7. Yulian Amin Rais I 0507004 I 0507012 I 0507014 I 0507019 I 0507028 I 0507051 I 0507061

JURUSAN TEKNIK KIMIA FAKULTAS TEKNIK UNIVERSITAS SEBELAS MARET SURAKARTA 2009
1

Sinar X digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun manusia. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. PENGERTIAN Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895. maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah dari intensitas sinar datang. Disamping itu. Hukum Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan 2 . sinar X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material.Berkas sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi.X-RAY DIFFRACTION (XRD) A. Gambar dibawah akan menjelaskan pengertian tersebut. Pada waktu suatu material dikenai sinar X.

Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi.sin θ . Sinar X dihasilkan di tabung sinar X yang berisi katoda memanaskan filamen. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. PRINSIP KERJA Dasar dari prinsip pendifraksian sinar X yaitu difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam sebuah kisi periodik.. makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya.. jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal. Bahan yang dianalisa adalah tanah halus.2. Standar ini disebut JCPDS. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. homogenized. Prinsip kerja XRD secara umum adalah sebagai berikut : XRD terdiri dari tiga bagian utama. Berdasarkan persamaan Bragg.d.maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut.λ = 2. dan rata-rata komposisi massal ditentukan B. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. dan detektor sinar X. maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan prinsip dari Hukum Bragg ini.tinggi dengan logam target. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material. n = 1. tempat objek yang diteliti. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel. XRD atau X-Ray Diffraction merupakan salah satu alat yang memanfaatkan prinsip tersebut dengan menggunakan metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg: n.. yaitu tabung sinar-X. Perbedaan tegangan 3 . sehingga menghasilkan elektron. Dari prinsip dasar ini.

3. Objek dan detektor berputar untuk menangkap dan merekam intensitas refleksi sinar X.menyebabkan percepatan elektron akan menembaki objek. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement 2. C. PENGGUNAAN 1. Karakterisasi material Kristal 4. Sedangkan untuk objek berupa bubuk (powder) sulit untuk menentukan strukturnya. Sedangkan kekurangannya adalah untuk objek berupa kristal tunggal sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya. Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat Penentuan dimensi-dimensi sel satuan D. Ketika elektron mempunyai tingkat energi yang tinggi dan menabrak elektron dalam objek sehingga dihasilkan pancaran sinar X. KELEBIHAN DAN KEKURANGAN Kelebihan penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah kemampuan penetrasinya. Karakteristik sampel film E. Detektor merekam dan memproses sinyal sinar X dan mengolahnya dalam bentuk grafik. sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang gelombangnya yang pendek. APLIKASI 1. Analisis kuantitatif dari mineral 3. Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf 2. Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal. 4 .

F. GAMBAR XRD  Gambar Alat 5 .

com/2009/05/prinsip-dasar-spekstroskopi-difraksi.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://en.wikip edia.html http://translate.id/ptbn/html/indo_fasilitas.org/wiki/Xray_scattering_techniques&prev=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DX RD%26tq%3DXRD%26sl%3Did%26tl%3Den 6 .html http://labinfo.com/2008/05/14/teknik-pemeriksaan-materialmenggunakan-xrf-xrd-dan-sem-eds/ http://orybun.blogspot.go.wordpress.google.co. Gambar Contoh Pola yang Menggunakan Alat XRD  Gambar Contoh Grafik G. DAFTAR PUSTAKA http://batan.

edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRD.google.id/translate?hl=id&langpair=en|id&u=http://serc.co.html&pre v=/translate_s%3Fhl%3Did%26q%3DXRD%26tq%3DXRD%26sl%3 Did%26tl%3Den 7 .carl eton.http://translate.

You're Reading a Free Preview

Download
scribd
/*********** DO NOT ALTER ANYTHING BELOW THIS LINE ! ************/ var s_code=s.t();if(s_code)document.write(s_code)//-->