P. 1
Microscope

Microscope

|Views: 369|Likes:
Published by Wahyu Kurniawan

More info:

Published by: Wahyu Kurniawan on May 22, 2010
Copyright:Attribution Non-commercial

Availability:

Read on Scribd mobile: iPhone, iPad and Android.
download as PDF or read online from Scribd
See more
See less

04/20/2013

Mechanical Engineering

wahyukurniawan.web.id

MICROSCOPE
PENDAHULUAN MIKROSKOP OPTIK

SEM (SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)

Page 1

Mechanical Engineering
wahyukurniawan.web.id

TEM (TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)

Karakteristik Mikroskop Optik (Optical Microscope), SEM (Scanning Electron Microscope) , dan TEM (Transmission Electron Microscope)
No Perbedaan 1 Sumber Mikroskop Optik
Cahaya atau lampu

SEM
Elektron beam yang berasal dari filament tungsten pada electron gun 10 X s.d 100.000 X 10 mm - 1 µm 0,02 mm - 0.2 nm (20Å) Bisa mengamati bahan uji 3 dimensi

TEM
Elektron beam yang berasal dari filament tungsten pada electron gun 1000 X s.d 1.000.000 X 10 mm - 1 µm 10 nm s.d 0.2 nm (2Å) Hanya mengamati bidang bisa satu

2 3 4 5

Perbesaran (Magnitude) Kedalaman Fokus (Depth of focus) Resolusi (Resolution Range) Pengamatan

1 X s.d 1400 X 0,1 mm - 1 µm 0,2 mm – 0,2 µm

6 7 8

Lensa Field Range Sinyal

Hanya bisa mengamati 1 bidang Biasanya terbuat dari gelas
100 mm s.d 0,1 mm

Terbuat dari elektromagnetik
10 mm s.d 1 µm

Terbuat dari elektromagnetik
10 µm s.d 0,1 µm

Sinyal hanya berupa gambar

Sinyal berbeda-beda tergantung proses

Sinyal hanya berupa gambar

Page 2

Mechanical Engineering
wahyukurniawan.web.id

Prinsip Kerja Mikroskop Optik (Optical Microscope), SEM (Scanning Electron Microscope) , dan TEM (Transmission Electron Microscope)

OPTICAL MICROSCOPE (MIKROSKOP OPTIS) adalah jenis mikroskop yang menggunakan cahaya dan sistem lensa yang memperbesar tampilan sampel yang kecil. Mikroskop optis merupakan mikroskop paling sederhana dan tertua. Saat ini, mikroskop digital sudah menggunakan kamera CCD untuk menguji sampel dan tampilannya ditunjukkan pada layar computer Cara Kerja

Komponen optis mikroskop modern sangat komplek. Agar dapat bekerja optimal diperlukan penyetelan dan pengaturan yang tepat. Namun demikian, prinsip kerjanya adalah sebagai berikut: 1. Lensa obyektif adalah kaca pembesar dengan daya tinggi dengan kata lain pembesar lensa dengan panjang titik api sangat pendek. Hal ini akan memperbesar bayangan subyek. Bayangan ini terbalik dan dapat terlihat dengan menggerakkan lensa mata okuler dan menempatkan selembar kertas transparan di atas ujung tabung. Bayangan nyata ini diamati dengan lensa atas mata okuler yang meneruskan pembesaran berikutnya. 2. Pada kebanyakan mikroskop, lensa mata okuler adalah lensa kombinasi, satu lensa di depan dan satunya di belakang dekat tabung lensa okuler. Dalam kebanyakan disain, bayangan sebenarnya terfokus antara dua lensa mata ebanyakan okuler, lensa pertama membawa bayangan nyata yang terfokus dan lensa kedua memungkinkan mata focus pada bayangan sebenarnya 3. Pada semua mikroskop, bayangan diamati dengan mata terfokus pad tak pada terbatas (artinya posisi mata di atas gambar ditentukan oleh fokus mata). Pusing dan mata lelah sesudah menggunakan mikroskop ini biasanya menandakan bahwa mata yang dipaksa memfokuskan pada jarak tertutup sudah cukup.

Page 3

Mechanical Engineering
wahyukurniawan.web.id

Mikroskop elektron menggunakan elektro statik dan elektromagnetik yang dapat mengontrol pencahayaan dan tampilan gambar serta memiliki kemampuan memperbesar obyek dengan resolusi yang lebih tinggi bila dibandingkan mikroskop cahaya. Mikroskop elektron ini menggunakan energi yang lebih banyak dan radiasi elektromagnetik yang lebih pendek dibandingkan mikroskop cahaya. Pembesaran obyek pada mikroskop electron mencapai 2 juta kali. Elektron yang dipercepat dalam suatu kolom elektromagnet, dalam hampa udara (vakum) memiliki karakter seperti cahaya, dengan panjang gelombang 100.000 kali lebih kecil dari cahaya. Medan listrik dan medan magnet dapat berperan sebagai lensa dan cermin seperti pada lensa gelas dalam mikroskop cahaya. Terdapat dua jenis mikroskop electron, yaitu: TEM (transmission electron microscope) dan SEM (scanning electron microscope).

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE (TEM) TEM dikembangkan oleh Dr. Ernst Ruska yang menggunakan tiga lensa medan magnet dengan resolusi sangat tinggi. Cara kerja TEM mirip dengan proyektor slide, di mana elektron ditembuskan ke dalam obyek pengamatan dan pengamat mengamati hasil tembusannya pada layar. Cara Kerja TEM bekerja pada sample layaknya slide proyektor dimana berkas sinar elektron melalui sample padat yang sangat tipis dengan ketebalan 5m. Sinar yang ditransmisikan diproyeksikan ke dalam layar phosphor untuk dapat melihatnya. Prinsip kerja TEM : 1. Sumber elektron berada pada bagian atas yaitu elektron gun yang menghasilkan berkas cahaya elektron monokromatik (monochromatic electrons) 2. Berkas tersebut difokuskan menjadi, tipis dan koheren beam dengan menggunakan lensa kondensor I dan II. Lensa kondensor pertama berfungsi sebagai kontrol ukuran (spot size knob) beasarnya menentukan ukuran spot, ukuran umum akhir spot diarahkan ke lensa kondensor kedua sebagai kontrol terhadap intensitas atau pencahayaan (Intensity or brightness knob) tepatnya

Page 4

Mechanical Engineering
wahyukurniawan.web.id

3.

4. 5. 6.

7. 8.

merubah ukuran dari spot yang mengenai sample, perubahan dari sinar lebar terdispersimenjadi sinar elektron terfokus. Berkas elektron diarahkan oleh kondensor lubang lensa (condensor aparture) dengan pemilihan, memisahkan berkas elektron bersudut besar jauh dari sumbu cahaya optik. Berkas elektron diarahkan ke sample dan sebagian sinar tersebut ditransmisikan. Sinar yang ditransmisikan difokuskan oleh lensa obyektif menjadi sebuah bayangan Lensa obyektif dan area pemilihan pada lubang logam dapat dibatasi oleh beam, lubang ojek dapat ditingkatkan kontrasnya dengan memblok sudut besar elektron terdifraksi, pemilihan ojek lubang dapat ditentukan dengan difraksi terperiode dari elketron dengan urutan susunan dari atom-atom dari sample. Bayangan yang dilewatkan melalui calon perantara dan lensa projektor dapat diperbesar dengan semua cara. Bayangan yang mengarah layar phopor dan cahaya terang diperkuat, sesuai kemauan pengguna untuk melihat bayangan. Daerah gelap dari bayangan memunculkan area dari sample adalah lebih sedikit dari sinar yang ditransmisikan. Area yang lebih terang dari bayang dimanculkan lebih banyak sinar yang ditransmisikan.

Mikroskop transmisi eletron saat ini telah mengalami peningkatan kinerja hingga menghasilkan resolusi hingga 0,1 nm (atau 1 angstrom) atau sama dengan pembesaran sampai satu juta kali. Namun mikroskop ini mensyaratkan obyek pengamatan harus setipis mungkin. Hal ini sangat menyulitkan untuk material yang tidak dapat dipertipis. Persiapan sampel dapat dilakukan sebagai berikut: 1. Fiksasi. Langkah ini bertujuan untuk mematikan sel tanpa mengubah struktur sel yang akan diamati. Fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa glutaraldehida atau osmium tetroksida. 2. Pembuatan sayatan. Sampel dipotong hingga setipis mungkin agar mudah diamati di bawah mikroskop. Preparat dilapisi dengan monomer resin melalui proses pemanasan, kemudian dilanjutkan dengan pemotongan menggunakan

Page 5

Mechanical Engineering
wahyukurniawan.web.id

mikrotom. Umumnya mata pisau mikrotom terbuat dari berlian karena berlian tersusun dari atom karbon yang padat. 3. Pelapisan/pewarnaan, bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat yang akan diamati dengan lingkungan sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat menggunakan logam berat seperti uranium dan timbal.

MIKROSKOP PEMINDAI ELEKTRON/ SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (SEM) Pada 1942 tiga orang ilmuwan Amerika yaitu Dr. Vladimir Kosma Zworykin, Dr. James Hillier, dan Dr. Snijder, mengembangkan sebuah mikroskop elektron metode pemindaian (SEM) dengan resolusi hingga 50 nm atau magnifikasi 8.000 kali. Sedangkan SEM modern mempunyai resolusi hingga 1 nm atau pembesaran 400.000 kali. Mikroskop elektron ini memfokuskan sinar elektron (electron beam) di permukaan obyek dan mengambil gambarnya dengan mendeteksi elektron yang muncul dari permukaan obyek. Prinsip kerja SEM. 1. Elektron dibangkitkan dari filament bertegangan tinggi V= 30 KV akan berfungsi sebagai electron gun. Electron yang dibakitkan berupa berkas electron monokromatik, skema electron gun. Berkas electron dipadatkan (condensed) oleh lensa kondensor I, lensa ini digunakan untuk mebentuk electron terarah dan membuat cahaya terarah, cara kerja dengan mengeliminasi berkas electron dengan sudut besar dari yang terarah (beam) berkas electron terarah, cara kerja dengan mengeliminasi berkas electron dengan sudut besar dari yang terarah (beam), berkas electron terarah kemudian dikerutkan oleh kondensor. 2. Pada lensa kondensor kedua membentuk cahaya electron menjadi tipis, rapat dan koheren yang akan dikontrol oleh fine probe current knob 3. Melalui coil scan dilakukan scanning electron terarah dalam jaringan pola pada titik tertentu dalam periode tertentu dalam waktu yang ditentukan oleh kecepatan scan (biasanya dalam beberapa mikrodetik) 4. Pada lensa objektif scan terarah difokuskan pada benda uji yang diamati.

Page 6

Mechanical Engineering
wahyukurniawan.web.id

5. Ketika elektron terarah mengenai benda uji (pada suatu titik dalam beberapa mikro detik) akan terjadi interaksi dalam sample dan dideteksi oleh beberapa instrumen. 6. Sebelum berkas elektron terarah berpindah dari titik ke titik berikutnya instrumen akan menghitung jumlah interaksi tersebut dan ditampilkan adalah pixel pada CRT (Cathode Ray Tube) dengan intensitas ditentukan oleh jumlah hitungan tersebut (reaksi lebih banyak dalam pixel terang). Dari display CRT akan dapat dilihat gambar (image) dari hasil pengamatan. 7. proses ini diulangi sampai jaringan scan selesai dan diulang lagi, hingga membentuk pola dengan scan hingga 3 kali per detik. Persiapan Sampel. Agar pengamat dapat mengamati preparat dengan baik, diperlukan persiapan sampel sebagai berikut : 1. Melakukan fiksasi, yang bertujuan untuk mematikan sel tanpa mengubah struktur sel yang akan diamati. Fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa glutaraldehida atau osmium tetroksida. 2. Dehidrasi, yang bertujuan untuk menurunkan kadar air dalam sayatan sehingga tidak mengganggu proses pengamatan. 3. Pelapisan/pewarnaan, bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat yang akan diamati dengan lingkungan sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat menggunakan logam mulia seperti emas dan platina.

Kegunaan dan informasi yang diperoleh dari Mikroskop Optik (Optical Microscope), SEM (Scanning Electron Microscope) , dan TEM (Transmission Electron Microscope) Mikroskop Optik (Optical Microscope), Di bidang biomedis, kemampuan microscopist hanya dibatasi oleh kapasitas-nya untuk membedakan berbagai karakteristik dari struktur jaringan, baik tumbuhan, hewan, maupun manusia, yaitu mengandalkan hampir sepenuhnya pada morfologi ciri-ciri sel dan jaringan. Dalam ilmu bahan, banyak kemiripan, namun strukturnya mungkin berbeda secara internal. Cahaya putih biasa tidak dapat digunakan untuk mempelajari bahanbahan, tersebut terutama karena cahaya yang bergetar di segala penjuru dan terdiri dari

Page 7

Mechanical Engineering
wahyukurniawan.web.id

berbagai panjang gelombang.. Instrumen pilihan untuk studi bahan adalah mikroskop cahaya terpolarisasi. Dengan menggunakan microskop optic kita dapat melihat struktur material dengan pembesaran hingga 1000 kali. Sebagai contoh kita dapat menggunakan mikroskop optik untuk memperkirakan diameter dari serat tunggal yang akan digunakan untuk pembuatan komposit. Data yang dapat diperoleh menggunakan mikroskop optik adalah memberikan beberapa karakteristik seperti bentuk, ukuran, warna, indeks bias, elongation, sudut, sistem Kristal.

TEM (Transmission Electron Microscope) Elektron tembus dapat menunjukkan distribusi unsur atau dapat memberikan informasi citra gambar tembus. TEM (Transmission Electron Microscope) Apabila dipasang detektor untuk menangkap elektron pantulan dan elektron turunan akan diperoleh gambaran topografi permukaan. Informasi yang dapat diperoleh dari mikroskop Sinyal yang digunakan E. tembus Modus kerja transmitif

Jenis Informasi Struktur internal, topografi Topografi, permukaan, komposisi Topografi, permukaan, variasi Komposisi, variasai, orientasi kristalografi. Susunan atom, susunan renik. Penetapan komposisi, pembedaan unsur Fase kontras, struktur bawah permukaan.

E. terserap

absorptif

E. turunan E. pantulan E. terbaur Sinar X Katodolominesen

emisif reflektif difraktif mikroanalisis luminesensi

Page 8

Mechanical Engineering
wahyukurniawan.web.id

Contoh gambar mikroskop Optik (Optical Microscope), SEM (Scanning Electron Microscope) , dan TEM (Transmission Electron Microscope) Optik (Optical Microscope)

Gambar 1 Permukaan Aluminium dengan menggunakan microscope optic

Gambar 2. Permukaan iron dengan menggunakan microscope optic SEM (Scanning Electron Microscope)

Gambar 1. Permukaan Aluminium dengan menggunakan SEM (Scanning Electron Microscope)

Page 9

Mechanical Engineering
wahyukurniawan.web.id

Gambar 2. Permukaan Stainless Steel dengan menggunakan SEM (Scanning Electron Microscope)

TEM (Transmission Electron Microscope)

Gambar 1. Permukaan aluminium dengan menggunakan TEM (Transmission Electron Microscope)

Gambar 2. Permukaan Stainless Steel dengan menggunakan TEM (Transmission Electron Microscope)

Page 10

You're Reading a Free Preview

Download
scribd
/*********** DO NOT ALTER ANYTHING BELOW THIS LINE ! ************/ var s_code=s.t();if(s_code)document.write(s_code)//-->